AMD 在最近的一次技術會議上向外媒分享了一些細節(jié)。據(jù)介紹,這顆 Chiplet 芯片仍采用 7nm 工藝,但峰值帶寬提高到了 2.5 TB / s,而初代 3D V-Cache 峰值帶寬為 2TB /s。
此外,我們還拿到了 AMD Ryzen 7000 處理器的新型 6nm I / O 芯片的新圖片和參數(shù)。
總的來說,AMD 第二代 3D V-Cache 技術比第一代技術再次向前邁出了一大步。
首先,AMD 的 3D V-Cache 技術將一顆額外的 L3 SRAM 芯片直接堆疊在計算芯片 (CCD) 芯片的中心,從而將其與溫度較高的核心隔離開來。這顆芯片為它帶來了 96MB 3D 緩存,從而提高了對延遲敏感類應用程序的性能表現(xiàn),比如游戲。
AMD 在 2023 年國際固態(tài)電路會議 (ISSCC) 上展示了一些關于第二代 3D V-Cache 實現(xiàn)的新技術,并就 Zen 4 架構(gòu)進行了演示。
AMD 上一代 3D V-Cache 將 L3 SRAM 芯片堆疊在 7nm Zen 3 CCD 上,而新一代的 L3 SRAM 芯片依然堅持采用了 7nm 工藝,但它需要堆疊在更小的 5nm Zen 4 CCD 上。這就造成了尺寸不匹配,因此需要進行一些修改,最終大幅提高了其晶體管密度。
第二代芯片 | 第一代芯片 | 5nm Zen 4 CCD | 7nm Zen 3 CCD | |
尺寸 | 36mm2 | 41mm2 | 66.3mm2 | 80.7mm2 |
晶體管數(shù) | 約 47 億 | 47 億 | 65.7 億 | 41.5 億 |
晶體管密度 | 約 1.306 億 | 約 1.146 億 | 約 9900 萬 | 約 5140 萬 |
與之前一樣,這顆額外的 L3 SRAM 緩存帶來了 4 個 clock 的時鐘信號延滯,但 L3 芯片和基本芯片之間的帶寬增加到 2.5 TB / s,比之前的 2 TB / s 提高了 25%。
這顆 L3 SRAM 芯片通過兩種類型的 TSV 硅通孔連接到基礎模芯片部分。其中 Power TSV 負責傳輸能量,Signal TSV 負責傳輸數(shù)據(jù)。
在第一代 L3 SRAM 芯片設計中,兩種類型的 TSV 都位于基礎芯片的 L3 區(qū)域,然而隨著 5nm 工藝的改進,基礎芯片上的 L3 緩存部分的面積現(xiàn)在有所減少。因此,即使 7nm 的 L3 SRAM 芯片面積更小,它現(xiàn)在也與 L2 緩存 (前一代只重疊了 L3 緩存部分) 發(fā)生重疊,所以 AMD 不得不改變基本芯片和 L3 SRAM 芯片中的 TSV 連接設計。
隨著基礎芯片上 5nm L3 高速緩存部分晶體管密度增加,AMD 不得不將 Power TSV 從 L3 擴展到 L2 區(qū)域。
對于基礎芯片,AMD 在 L3 緩存、數(shù)據(jù)路徑和控制邏輯上實現(xiàn)了 0.68 倍的有效面積縮放(與舊的 7nm 芯片相比),因此 L3 緩存中 TSV 物理空間更小。
Signal TSV 依然保留在基礎芯片上的 L3 緩存區(qū)域內(nèi),但 AMD 通過應用從第一代設計中學到的知識以及 DTCO 改進,將 L3 緩存中的 TSV 區(qū)域縮小了 50%,以減少新接口設計中的額外電路。
提醒,AMD 的 3D 芯片堆疊技術基于 臺積電的 SoIC 技術,而臺積電的 SoIC 是無凸點的設計,這意味著兩個芯片之間的連接不會使用微凸塊或焊料。AMD 表示,它使用了相同的基本鍵合 / 粘合工藝,并進行了持續(xù)的工藝和 DTCO 改進,但最小 TSV 間距并未改變。
此外,L3 SRAM 小芯片也與 CPU 內(nèi)核保持在同一功率區(qū)域,因此無法獨立調(diào)整。也正因為電壓不能超過~1.15V,所以配備緩存的小芯片的頻率也不會太高。
6nm I / O 芯片-Ryzen 7000 | 12nm I / O 芯片- Ryzen 5000 | 6nm I / O 芯片 EPYC | |
尺寸 | 117.8mm2 | 125mm2 | 386.88mm2 |
晶體管數(shù) | 33.7 億 | 20.9 億 | 110 億 |
晶體管密度 | ~2860 萬 | ~1670 萬 | ~2980 萬 |